高加速試驗(yàn)箱

高加速試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

本產(chǎn)品用途：

1. 本試驗(yàn)箱適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等的壽命試驗(yàn)研究，通過施加包括高溫步進(jìn)、低溫步進(jìn)、

快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等單項(xiàng)或綜合應(yīng)力，并逐步增強(qiáng)這些試驗(yàn)樣品上的應(yīng)力，以確定其所

能耐受的應(yīng)力極限，為產(chǎn)品在研發(fā)、設(shè)計(jì)、試產(chǎn)，以及批生產(chǎn)等階段快速找出產(chǎn)品缺陷并改進(jìn)，縮短研發(fā)時(shí)間，在保證產(chǎn)

品質(zhì)量的同時(shí)達(dá)到快速上市的目的；

2.本試驗(yàn)箱還可用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等的高加速應(yīng)力篩選，通過高加速壽命試驗(yàn)所了解的產(chǎn)

品工作極限和破壞極限，確定試驗(yàn)程式后，在產(chǎn)品的試產(chǎn)或批量生產(chǎn)階段，將相應(yīng)加速應(yīng)力施加于產(chǎn)品，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行篩選

，以便有效地監(jiān)控產(chǎn)品制程的一致性，剔除有缺陷產(chǎn)品，降低產(chǎn)品返修率！對(duì)于大型整機(jī)類型的電工電子產(chǎn)品，建議對(duì)其

前端的裝配級(jí)(如印制電路板組件、子模塊)進(jìn)行高加速壽命試驗(yàn)或高加速應(yīng)力篩選試驗(yàn)

產(chǎn)品禁止：

◆易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

◆腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

◆ 生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

◆  強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存